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BC3199模数混合集成电路测试系统,用于模拟集成电路、数字集成电路、音频和数模混合集成电路的测试，生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。

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更新日期
2025-04-30

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LX9300大功率分立器件测试系统

LX9300大功率分立器件测试系统本测试系统不仅满足大功率VDMOS的GFS(跨导)测试、IGBT功率参数的测试，还涵盖中小功率半导体器件的测试，适用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试。

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更新日期
2025-04-30

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LX9600分立器件动态参数测试系统

LX9600分立器件动态参数测试系统是半导体分立器件动态参数测试的设备, 用于MOSFET、IGBT、快恢复二极管、双极型三极管的动态参数测试。测试原理符合相应的国家标准、国家用标准，系统为模块化、开放式结构，具有升级扩展潜能。

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更新日期
2025-04-30

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生产厂家

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聚源SAR雷达测试系统

聚源SAR雷达测试系统是作为光学等常规手段的补充，主要用于夜晚等不适合光学作业情况下使用，对SAR的需求概况为“看的见，能定位”。微小型FMCW-SAR系统采用LTTC等微组装技术，实现高频、低频和数字电路的3D互连，如图 1所示；系统本身能内埋无源器件，从而能够实现了SAR系统的轻量小型化，具有体积小，重量轻，分辨率高等特点

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更新日期
2025-04-30

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